佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756

簡要描述：佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756
1. 采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統，使儀器光源切換更快速。
2.準確的2nm帶寬，使測試數據更準確。使用進口長壽命光源，使儀器光源切換更快速。
3.*的波長控制系統，使波長精度更高。改良的光學系統，使測試更準確。
4.采用進口的光電轉換器，使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數據處理系統。使儀器的使用更簡便，穩定性也很好。

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生產地址：上海市奉賢區青村鎮青靈路228號
更新時間：2025-09-08
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詳細介紹

品牌	YOKE/上海佑科	光譜帶寬	2nm
波長準確度	±0.5nm	雜散光(S.L.)	0.05%%T
波長范圍	190-1100nm	自動程度	自動波長
接收器類	光電二極管陣列	儀器結構	準雙光束
價格區間	面議	應用領域	醫療衛生,環保,食品/農產品,化工,生物產業

佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756 儀器特點：

1. 采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統，使儀器光源切換更快速。
2. 準確的2nm帶寬，使測試數據更準確。使用進口長壽命光源，使儀器光源切換更快速。
3.*的波長控制系統，使波長精度更高。改良的光學系統，使測試更準確。
4.采用進口的光電轉換器，使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數據處理系統。使儀器的使用更簡便，穩定性也很好。
6.儀器采用128*64位點陣液晶顯示器，可直接顯示標準曲線和測試數據，主機可存儲測試數據，并可選配打印機；
UV756CRT型紫外可見分光光度計在UV756的基礎上增加了全波段自動掃描功能和連接微機功能。

佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756 儀器參數：

波長范圍：190-1100nm
波長準確度：±0.5nm
波長重復性：0.2nm
光譜帶寬：2nm
透射比準確度：±0.5%T
透射比重復性：0.2%T
光度范圍：-3~3A ，0-200%T，0~9999C
基線平直度：±0.001A/h
雜散光：0.05%T@220nm、360nm
穩定性：±0.001A/小時 @500nm
顯示方式：128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊：USB接口
打印機：選配
分析軟件：支持
自動八聯比色池：選配
光學系統：雙光束比例監測
噪聲水平：±0.001A/2min@500nm

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